【嘉勤點評】芯視元的平整度校正專利，通過測量及運算并經(jīng)過數(shù)據(jù)擬合處理得到LCoS微顯示芯片模塊中所有像素點的相位校正量，從而實現(xiàn)LCoS空間光調(diào)制器的顯示芯片平整度校正，適用于對顯示芯片平整度要求較高的場景。

近日由芯視元承辦的“芯機聯(lián)動”AR/VR集成電路公共服務(wù)平臺啟用儀式暨第二屆AR/VR論壇隆重舉行。芯視元發(fā)布了新品空間光調(diào)制器芯光-II-101，它搭載了自主研發(fā)、具有完全知識產(chǎn)權(quán)的高性能硅基液晶芯片(LCoS) 。

隨著對波前控制精度要求的提高，對液晶空間光調(diào)制器自身特性測量與分析也變得日益重要。因芯片表面曲率與ITO玻璃表面曲率不同，導致之間灌裝的液晶不平整，而空間光調(diào)制器的相位信息對這種不平整液晶比較敏感，能夠得到一個在合理誤差范圍內(nèi)的相位響應(yīng)曲線成為提升其性能關(guān)鍵，因此校正平整度至關(guān)重要。

為此，芯視元于2020年11月23日申請了一項名為“LCoS空間光調(diào)制器的顯示芯片平整度校正系統(tǒng)”的發(fā)明專利（申請?zhí)? 202011316717.9），申請人為南京芯視元電子有限公司。

圖1 顯示芯片平整度校正系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖

圖1為LCoS空間光調(diào)制器的顯示芯片平整度校正系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖，該系統(tǒng)包括微控制模塊、驅(qū)動模塊、相位調(diào)制測量模塊、LCoS微顯示芯片模塊。

其中目標LCoS空間光調(diào)制器由驅(qū)動模塊和LCoS微顯示芯片模塊組成。相位調(diào)制測量模塊能夠在LCoS微顯示芯片模塊顯示各測試圖片時，測量LCoS微顯示芯片模塊中各預設(shè)校正基準點的相位信息，進而獲取各校正基準點分別所對應(yīng)的相位響應(yīng)曲線數(shù)據(jù)，并反饋給微控制模塊。預設(shè)校正基準點為按照預設(shè)的位置在LCoS顯示芯片中的各像素點中選取的像素點，預設(shè)校正基準點的個數(shù)不超過目標LCoS空間光調(diào)制器的LCoS顯示芯片的分辨率。微控制模塊根據(jù)各校正基準點的相位響應(yīng)曲線數(shù)據(jù)，獲取各校正基準點的相位校正量，并將相位校正量和指令數(shù)據(jù)發(fā)送至驅(qū)動模塊。

驅(qū)動模塊驅(qū)動點亮LCoS微顯示芯片模塊，還可以根據(jù)各校正基準點的相位校正量，獲取LCoS微顯示芯片模塊中各像素點的相位校正量，并根據(jù)其對對應(yīng)的像素點的相位進行校正。LCoS空間光調(diào)制器可以接收但不限于接收RGB數(shù)據(jù)、MIPI類型的數(shù)據(jù)。

相位調(diào)制測量模塊對各測試圖片進行測量，將獲取的各校正基準點的相位響應(yīng)曲線數(shù)據(jù)發(fā)送至微控制模塊，直至微控制模塊發(fā)送至驅(qū)動模塊的控制指令將各校正基準點的相位響應(yīng)曲線中的各相位值和參考相位基準曲線中的對應(yīng)位置的相位的差值校正至允許誤差范圍內(nèi)。如果所有的相位差值均在允許的誤差范圍內(nèi)，則直接停止校正，否則結(jié)束一次相位校正后微控制模塊重新發(fā)送測試圖片數(shù)據(jù)，重復前述校正過程，直至各相位差值均在允許誤差范圍內(nèi)。

簡而言之，芯視元的平整度校正專利，通過測量及運算并經(jīng)過數(shù)據(jù)擬合處理得到LCoS微顯示芯片模塊中所有像素點的相位校正量，從而實現(xiàn)LCoS空間光調(diào)制器的顯示芯片平整度校正，適用于對顯示芯片平整度要求較高的場景。

芯視元是一家專注于智慧顯示芯片研發(fā)的高新技術(shù)企業(yè)，致力于微顯示芯片的研究和研發(fā)，將持續(xù)推出系列LCoS、Micro LED和Micro OLED產(chǎn)品以滿足行業(yè)的各種需求，服務(wù)于行業(yè)上下游合作伙伴。

（holly）